Тестер шлейфов eDP & LVDS матриц ASCCT-v2.01-2024 с аккумулятором (LCD cable tester v2.01-2024 LVDS 30 pin, LVDS 40 pin, eDP 30 pin & eDP 40 pin с шагом 0,4 и 0,5 мм)

Тестер шлейфов eDP & LVDS матриц ASCCT-v2.01-2024 с аккумулятором (LCD cable tester v2.01=2024 LVDS 30 pin, LVDS 40 pin, eDP 30 pin & eDP 40 pin с шагом 0,4 и 0,5 мм)

Возможны 3 варианта поставки:

1. Как есть - цена указана на сайте

2. Дадим в комплект 3 разъёма, штатно не установленных производителем = + 500р

3. Допаяем штатно не установленные производителем 3 разъёма, припаяем АКБ и даже приклеим его на двухсторонний скотч = + 1000р

Обзор и практические примеры использования.

https://youtu.be/QjKbFqIn364

Инструкции

https://drive.google.com/drive/folders/1NgqULZiHA0DKKIeSFirBdc3gpHgkL_UP

Тестер питается от аккумулятора . Заряжается АКБ через разьем micro USB , аккумуляторная батарея Li-Ion в комплекте!

Для его подключения, с обратной стороны платы находятся площадки под пайку проводов.

Защита от обратной полярности не предусмотрена, будьте внимательны!

Тестер предназначен для диагностики целостности шлейфов интерфейса LVDS 30 pin, LVDS 40 pin, eDP 30 pin и eDP 40 pin с шагом 0,4 и 0,5 мм, наиболее распространенных и достаточно стандартных матриц.

Позволяет выявить ненадежные контакты в поврежденных проводниках, методом механического воздействия на шлейф.

Также позволяет локализовать проблему в случаях отсутствия изображения по причине обрывов либо наличия коротких замыканий в шлейфе.

Подключается к шлейфу со стороны матрицы.

Для диагностики обрывов, требуется подключение шлейфа к материнской плате ноутбука.

Проверка на наличие коротких замыканий осуществляется без подключения к МП.

При использовании тестера, материнская плата должна быть ПОЛНОСТЬЮ обесточена!

Тестер подключается к шлейфу со стороны матрицы. Другой конец шлейфа при этом подключен к материнской плате ноутбука (МП). Включение и выключение тестера - автоматическое (используется один из GND для запуска прибора).

В этом режиме тестер выдает переменный сигнал на все линии шлейфа, через светодиоды и токоограничивающие резисторы. Переменный сигнал необходим для диагностики линий eDP.

По свечению светодиодов определяется наличие контакта или обрыва проводников от коннектора матрицы до МП линий LVDS, eDP, а также питания матрицы, линий EDID и линий управления подсветкой.

Яркость светодиодов по сигнальным линиям LVDS/eDP зависит от падения напряжения на стороне МП, по которому, в некоторых случаях, можно выявить КЗ или обрыв в процессоре, хабе, трансляторе в сигнальных парах, различив разность свечения светодиодов, что является сигналом для анализа. А также, визуально яркость может быть одинакова при наличии КЗ на сигнальной шине одной из пар, в этом случае рекомендуется сравнить размах сигналов осциллографом на контрольных точках.

Яркость светодиодов по линиям управления зависит от способа их реализации в МП - с МК, видеочипа, буферных/логических элементов и т.п. В некоторых случаях, например если сигнал на МП включается полевым транзистором, свечение может быть очень слабым, даже если шлейф в порядке.

Также на плату выведены площадки для удобного подключения щупа осциллографа. Площадки подключены напрямую к сигнальным линиям на разъемах. Это позволяет проанализировать сигнал и сделать выводы о исправности шлейфа и МП.